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Otsuka大塚高速測(cè)量掃描膜厚儀(在線(xiàn)式)-成都藤田科技提供 采用線(xiàn)掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚在線(xiàn)掃描膜厚測(cè)定儀新品入市-成都藤田科技提供 采用線(xiàn)掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商,提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
日本Otsuka大塚電子SM-100涂層測(cè)厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量?jī)H為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測(cè)量和簡(jiǎn)單測(cè)量” 無(wú)需校準(zhǔn)曲線(xiàn)即可測(cè)量低至 0.1 μm 的測(cè)量 “兼容多層薄膜” 最多可測(cè)量 3 層多層薄膜 “無(wú)損、非接觸式測(cè)量”測(cè)量,不損壞樣品 “測(cè)量各種樣品” 無(wú)論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進(jìn)行測(cè)量
日本Otsuka大塚測(cè)試系統(tǒng)ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量?jī)H為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測(cè)量和簡(jiǎn)單測(cè)量” 無(wú)需校準(zhǔn)曲線(xiàn)即可測(cè)量低至 0.1 μm 的測(cè)量 “兼容多層薄膜” 最多可測(cè)量 3 層多層薄膜 “無(wú)損、非接觸式測(cè)量”測(cè)量,不損壞樣品 “測(cè)量各種樣品” 無(wú)論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進(jìn)行測(cè)量
日本Otsuka大塚 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量?jī)H為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測(cè)量和簡(jiǎn)單測(cè)量” 無(wú)需校準(zhǔn)曲線(xiàn)即可測(cè)量低至 0.1 μm 的測(cè)量 “兼容多層薄膜” 最多可測(cè)量 3 層多層薄膜 “無(wú)損、非接觸式測(cè)量”測(cè)量,不損壞樣品 “測(cè)量各種樣品” 無(wú)論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進(jìn)行測(cè)量
日本Otsuka大塚電子SM-100智能涂層測(cè)厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量?jī)H為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測(cè)量和簡(jiǎn)單測(cè)量” 無(wú)需校準(zhǔn)曲線(xiàn)即可測(cè)量低至 0.1 μm 的測(cè)量 “兼容多層薄膜” 最多可測(cè)量 3 層多層薄膜 “無(wú)損、非接觸式測(cè)量”測(cè)量,不損壞樣品 “測(cè)量各種樣品” 無(wú)論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進(jìn)行測(cè)量
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