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日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚HM series 光譜光通測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...

日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...

日本Otsuka大塚FE-3700高精度膜厚測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。 除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。 用法 LCD ITO...

日本Otsuka大塚GS-300oad Port膜厚測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 支持集成到 Φ300mm EFEM 單元的備用端口 實現嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 支持半導體工藝的高吞吐量要求 支持槽口對齊功能 小尺寸規格 高精度自動校準單元 自動...