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日本Otsuka大塚 粒徑測試系統·ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量，不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量

日本Otsuka大塚電子SM-100智能涂層測厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量，不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量

日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚HM series 光譜光通測量系統-成都藤田科技提供 產品信息 特點 可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器，可以進行廣動態范圍的測量 測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從250毫...

日本Otsuka大塚GP series分光配光測量系統-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...

日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供 特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 光學系統降低了...