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日本大塚Otsuka
膜厚測試儀
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日本Otsuka大塚電子SM-100涂層測厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量,不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進行測量
日本Otsuka大塚測試系統ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量,不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進行測量
日本Otsuka大塚 粒徑測試系統·ELSZneoSE-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量,不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進行測量
日本Otsuka大塚電子SM-100智能涂層測厚儀-成都藤田科技提供 “便攜式手持型”重量僅為 1.1 公斤,易于攜帶 “高精度測量和簡單測量” 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量 “兼容多層薄膜” 最多可測量 3 層多層薄膜 “無損、非接觸式測量”測量,不損壞樣品 “測量各種樣品” 無論基材(玻璃或塑料)如何,都可以進行測量
日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚儀成都藤田科技提供 用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點,在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...
日本Otsuka大塚 薄膜離線型掃描膜厚儀-成都藤田科技提供$n采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創新設計 作為專業膜厚測定廠商,提供多種支援 實現高精度測量實現高速測量 不受偏差影響 可對應寬幅樣...
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