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產品中心日本大塚Otsuka日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測
產品型號：
更新時間：2025-02-21
廠商性質：代理商
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產品分類
日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供
● 三次元折射率/Rth/β*
● 分光光譜/色度*
*選配功能追加
測量對象
● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell（TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電）
- 反射型液晶cell（TFT、TN、IPS、VA）
● 光學材料
- 其他（相位差、橢圓、偏光膜、液晶材料）
仕 樣
型號 | RETS series |
|---|---|
樣品尺寸 | 20mm x 20mm ～* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ～數10μm |
cell gap重復性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ～ 800nm |
光學系 | 偏光光學系 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構 | -20 ～ 45°、-45 ～ 45°等 |
*也可用于大型玻璃基板(3000mmx3000mm以上)
測量案例
液晶面內分布圖
核心特點：
微區測量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動XY平臺（200×200mm），實現晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區域的精準厚度分布映射。
跨行業適用性：專為半導體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業設計，支持粗糙表面、傾斜結構及復雜光學異向性樣品的分析。
安全與擴展性：區域傳感器觸發防誤觸機制，獨立測量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測（inline）與實驗室研發需求。
日本Otsuka大塚RETS series液晶層間隙量測-成都藤田科技提供
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