日本JP-Probe空氣耦合檢測配套聚焦探頭縱波-成都藤田科技提供

JP-Probe「實驗室級超聲波發(fā)射器」

——微米級分辨率，科研與工業(yè)雙領(lǐng)域制霸！

詳細介紹

兼容科研級精度與工業(yè)級強度的超聲波探頭，最小檢測精度達5μm，同時支持30kHz~10MHz超寬頻段，滿足納米材料表征與重型設(shè)備探傷雙重需求。

革命性動態(tài)功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)，單臺設(shè)備即可實現(xiàn)從微弱信號捕捉（10V低功耗）到高強度穿透檢測（600V高壓）的無縫切換。

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• 超低噪聲黑科技：信噪比＞90dB，精準(zhǔn)捕捉微裂紋、氣泡等亞表面缺陷。

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• 多場景通吃：
  

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• → 精密模式（10~100V）：檢測薄壁件、涂層附著力，分辨率達0.01mm。
  

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• → 穿透模式（300~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~600V）：應(yīng)對鑄件、混凝土深層缺陷，最大穿透深度1.5m。

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• 一鍵波數(shù)編程：1~300波序列自由組合，適配孔隙檢測、厚度測量、分層分析等復(fù)雜需求。

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• 云端數(shù)據(jù)管理：檢測報告自動同步至云端，支持AI缺陷比對與趨勢預(yù)測。

• 跨學(xué)科適配：
  

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• → 科研領(lǐng)域：材料彈性模量測量、生物組織聲學(xué)特性分析。
  

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• → 工業(yè)領(lǐng)域：渦輪葉片蠕變損傷評估、焊接接頭疲勞壽命預(yù)測。

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• 模塊化擴展：可選配高溫探頭、相控陣模塊，升級為全自動檢測系統(tǒng)。

  
  

  
  

  
  

  

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發(fā)射接收表面波的探頭

○點聚焦斜角探頭

○點聚焦縱波斜角探頭

○寬頻點聚焦斜角探頭

日本JP-Probe空氣耦合檢測配套聚焦探頭縱波-成都藤田科技提供